图像仅供参考,请参阅产品规格书。
| 制造商零件编号: | SN74BCT8240ADWR |
| 描述: | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
| 制造商: | Texas Instruments |
| 库存: | 7823 |
| 系列: | 74BCT |
| 逻辑类型: | 扫描测试设备,带反相缓冲器 |
| 供电电压: | 4.5V ~ 5.5V |
| 位数: | 8 |
| 工作温度: | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型: | 表面贴装型 |
| 封装/外壳: | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
| 供应商器件封装: | 24-SOIC |