图像仅供参考,请参阅产品规格书。
| 制造商零件编号: | SN74LVTH182502APM |
| 描述: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
| 制造商: | Texas Instruments |
| 库存: | 4845 |
| 系列: | 74LVTH |
| 逻辑类型: | ABT 扫描测试设备,带通用总线收发器 |
| 供电电压: | 2.7V ~ 3.6V |
| 位数: | 18 |
| 工作温度: | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型: | 表面贴装型 |
| 封装/外壳: | 64-LQFP |
| 供应商器件封装: | 64-LQFP(10x10) |